Facilities
二次イオン質量分析計(Secondary ion mass spectrometry (SIMS))
IMS 4f-E7 SIMS (Ametek CAMECA社)
レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析計(LA-ICP-MS)
NWR-193(ESI NWR 社) + iCAP Qc(ThermoFisher社)
走査型電子顕微鏡(SEM)
JSM-6380LA (JEOL社) + EDS(EDAX社)
走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)
JIB-4501 (JEOL社)
グローブボックス
AN-1000（UNICO社）
顕微ラマン分光器
NRS-3100（日本分光社）532nmと785nmの励起レーザーを搭載
横型管状水蒸気拡散炉
ヒートテック社
ウルトラミクロトーム
Reichert Ultracut改
プーラー
Narishige社
マイクロフォージ
Narishige社
段差計
ET200 （小坂研究所）
実体顕微鏡 SMZ-18（Nikon社）, マイクロマニピュレータ xxx（Narishige社）
実体顕微鏡 SMZ-1500（Nikon社）,電動マイクロマニピュレータ（駿河精機社）, 小型精密ホットプレート（Weller社）, 局所排気装置（アズワン社）
正立顕微鏡（Nikon社）, 電動マイクロマニピュレータ（駿河精機社）, ミリングプロ（マイクロサポート社）
正立顕微鏡（Nikon社）, ラムダビジョン分光装置
隕石等の分析試料作成の装置群
ほか 光学顕微鏡（偏光顕微鏡、実体顕微鏡）, 真空蒸着装置（金、白金、炭素）